日置LCR測(cè)試儀檢測(cè)線圈的錯(cuò)誤
日置LCR測(cè)試儀可以瞬間檢測(cè)線圈的繞圈開始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤
日置LCR測(cè)試儀的測(cè)試要點(diǎn)
· 使用日置LCR測(cè)試儀IM3523的相位測(cè)量功能，可以瞬間檢測(cè)出線圈的繞圈開始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤。而且，通過測(cè)量阻抗，可以檢查觸電、生產(chǎn)品和對(duì)比品的位置關(guān)系，這樣能進(jìn)行更加可靠的檢查。
●對(duì)比品（精選線圈：也可以是生產(chǎn)品）連接LCR測(cè)試儀IM3523的Lpot、Hpot端子。
●將Lcur、Hcur端子連接希望檢查卷線開始、卷線結(jié)束的生產(chǎn)品。這時(shí)，為了容易產(chǎn)生磁性結(jié)合，請(qǐng)將對(duì)比品和生產(chǎn)品放得的盡量靠近。LCR測(cè)試儀IM3523的測(cè)量項(xiàng)目設(shè)為θ（相位）和Z（阻抗）。
●由于生產(chǎn)品的泄漏磁通量，對(duì)比品會(huì)產(chǎn)生誘導(dǎo)電壓。
●若生產(chǎn)品的卷線開始、卷線結(jié)束存在錯(cuò)誤，則對(duì)比品所產(chǎn)生的電壓的相位極性會(huì)和正常品有差別。利用 這點(diǎn)，可以檢測(cè)出卷線開始、卷線結(jié)束的錯(cuò)誤。
●生產(chǎn)品和LCR測(cè)試儀IM3523的接觸不良、和對(duì)比品的位置差異不同的話，則有時(shí)也可能無法正常檢測(cè)出泄漏磁通量。通過以正常測(cè)量時(shí)的阻抗為標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)出和其的差異，可以確認(rèn)接觸檢查和位置關(guān)系。
※泄漏磁通量較少時(shí)，需要在初期階段時(shí)進(jìn)行增加對(duì)比品的阻抗，增大磁性結(jié)合等的調(diào)整。
日置LCR測(cè)試儀檢測(cè)線圈的使用儀器
LCR測(cè)試儀IM3523
4端子探頭9500-10
日置LCR測(cè)試儀IM3523的介紹：
應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇
● 基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能
● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間
本產(chǎn)品不標(biāo)配測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。請(qǐng)結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測(cè)量探頭和測(cè)試夾具。所有探頭均帶有一個(gè)1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接：交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637，不需要硬件控制器。
可靠的產(chǎn)線檢查：接觸檢查功能
檢查4端子測(cè)量時(shí)樣品間的接觸不良。
測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設(shè)置的閾值以上時(shí)則顯示錯(cuò)誤。
日本日置LCR測(cè)試儀IM3523的技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)量模式 | LCR,連續(xù)測(cè)試 |
|---|---|
| 測(cè)量參數(shù) | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
| 測(cè)量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) |
| 可顯示量程 |
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位]* ～9.99999G [單位])(*為更高分辯率時(shí)的顯示位數(shù)） 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%) |
| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
| 測(cè)量頻率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
| 測(cè)量信號(hào)電平 |
正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms |
| 輸出阻抗 | 正常模式：100Ω |
| 顯示 | 單色LCD |
| 測(cè)量時(shí)間 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
| 功能 | 比較器，分類測(cè)量(BIN功能)，面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能 |
| 接口 |
EXT I/O(處理器)，USB通信(高速) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一 |
| 電源 | 100～240V AC，50/60Hz，zuida50VA |
| 尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
| 附件 | 電源線×1，使用說明書×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
日本日置LCR測(cè)試儀IM3523的選件：
4端子探頭L2000:DC~8MHz，1m長
4端子開爾文夾9140-10:DC~200kH，50 Ω，1 m長
鑷形探頭L2001:線長73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
測(cè)試治具9261-10:線長1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測(cè)端口直徑：0.3~1.5mm
測(cè)試治具9262:DC～8 MHz, 直接連接型
SMD測(cè)試治具9263:直接連接型, DC～5 MHz 測(cè)試尺寸: 1mm～10.0mm
SMD測(cè)試治具9677:用于側(cè)面有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測(cè)試治具9699:用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測(cè)試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB連接線9151-02:2m長
